Epsilon 1 研究および教育機関向け

Epsilon 1, XRF spectrometers, PANalytical

Epsilon 1

コンパクトかつパワフル

Epsilon 1は、完全に統合されたエネルギー分散型蛍光X線(XRF)分析装置で、装置本体、内蔵コンピュータ、分析用ソフトウェアにより構成されています。先進の励起および検出技術が搭載されていて、低コスト卓上型分析装置としては最高レベルの性能を誇っています。優れた設計の光学系、軽元素から重元素に対応可能な10~50kVの幅広い励起電圧能力、高感度SDD検出器システムを搭載した、他に類を見ない装置です。

ソフトウェアは、Stratosを使用して、基本的な組成分析から、膜の厚さ測定、金属組成やコーティング分析などの高度な分析を実行することが可能な柔軟性を備えています。また、FingerPrinting ソフトウェアモジュールを用いて、さまざまな物質のX線スペクトルを用いた真贋分析をPCAに基づいたクラスタ分析で実行することもできます。



主な仕様とオプション

サンプルハンドリング X線管球 検出器 ソフトウェアの特長
繰り返し精度の高いサンプルポジショニング 安定性の高いセラミック製サイドウィンドウ管球 高分解能、135eV以上 ル-チンモードは視認性の高い測定画面で簡単操作
最大 15 x 12 x 10 cm (幅 x 奥行 x 高さ)のあらゆるサンプル 薄窓ウィンドウ50ミクロン 薄窓ウィンドウ8ミクロン 多くの特長を有すアドバンスドモード
液体などに対する漏出保護 P やS 分析に理想的なAgアノード 高い計数率 Stratos モジュール
重元素に理想的な最大50kV FingerPrinting モジュール
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