Análisis de DRX de películas delgadas

Reflectivity, PANalytical
Reflectivity

Reflectivity is our software package for displaying, simulating and fitting X-ray reflectometry data for thin film thickness determination and more.

Epitaxy and Smoothfit, PANalytical
Epitaxy

Epitaxy offers a wealth of information on thin heteroepitaxial layers, such as mismatch and relaxation, composition and layer thickness.

HighScore, PANalytical
HighScore

HighScore, our powder diffraction software, can also be used for phase identification and depth profiling of phases in polycrystalline coatings.

Stress Plus, PANalytical
Stress Plus

With our Stress Plus module on top of our Stress software package, residual stresses in polycrystalline films can be determined.

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