XRD-анализ тонких пленок

Reflectivity, PANalytical
Reflectivity

Reflectivity is our software package for displaying, simulating and fitting X-ray reflectometry data for thin film thickness determination and more.

Epitaxy and Smoothfit, PANalytical
Epitaxy

Epitaxy offers a wealth of information on thin heteroepitaxial layers, such as mismatch and relaxation, composition and layer thickness.

HighScore, PANalytical
HighScore

HighScore, our powder diffraction software, can also be used for phase identification and depth profiling of phases in polycrystalline coatings.

Stress Plus, PANalytical
Stress Plus

With our Stress Plus module on top of our Stress software package, residual stresses in polycrystalline films can be determined.

<b>Запрос</b> предложения Запрос предложения

Чтобы помочь нам подготовить предложение, заполните форму как можно подробнее.

<b>Свяжитесь</b> с нами Свяжитесь с нами

Если вам нужна дополнительная информация, воспользуйтесь этой формой для связи с нами.

Что такое XRD?
Исследование материалов

Рентгеновская дифракция — это единственный лабораторный метод, позволяющий...
Подробнее

В других странах и поблизости
PANalytical
Международный бизнес

PANalytical располагает превосходной сетью представительств по...
Подробнее

Наши ведущие продукты
Zetium
Вклад в ваш успех

Роль оборудования PANalytical в повышении эффективности технологических процессов.
Подробнее

Свяжитесь с нами
PANalytical
Свяжитесь с нами

Если вам нужна дополнительная информация, воспользуйтесь этой формой для связи с нами.
Подробнее